FRT offre un profilometro ottico di semplice utilizzo per la misurazione senza contatto di supe

30 Aprile 2009, di Redazione Wall Street Italia

FRT presenta un nuovo profilometro in occasione del CONTROL 2009 di Stoccarda. La soluzione ottica (http://www.profilometer.com/en) consente di misurare le superfici in modo ottimale e non distruttivo. MicroSpy Profil misura ruvidità, contorno, topografia 3D, alzata, planarità, geometria, volume, area di contatto e altro ancora, il tutto con precisione metrologica. Il nuovo prodotto ottico segue la scia di MicroSpy Topo, il premiato microscopio confocale, lanciato da FRT nel 2008. Come per tutti gli strumenti metrologici della serie MicroSpy, il nuovo profilometro è facile da utilizzare, è conveniente e offre prestazioni potenti (con risoluzione verticale fino a 3 nanometri). Il testo originale del presente annuncio, redatto nella lingua di partenza, è la versione ufficiale che fa fede. Le traduzioni sono offerte unicamente per comodità del lettore e devono rinviare al testo in lingua originale, che è l’unico giuridicamente valido.

FRTDott. Oliver SchillingsTel.: +49(0)[email protected]